膜厚测试仪工作原理
对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
膜厚测试仪是一款于检测各种异形件,特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测,在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
膜厚测试仪准直器规格
1.可选单准直器、多准直器;
2.多准直器程控交换;
3.可选园形、矩形准直器;
4.园形准直器:0.1、0.15、0.2、0.3、0.33、0.5mm;
5.矩形准直器:0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254、0.102x0.406mm;
6.单准直器标配:0.3mm;
7.双准直器标配:0.1、0.3mm;
8.四准直器标配:0.15、0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm。